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R. Tommasini, A. MacPhee, D. Hey, T. Ma, C. Chen, N. Izumi, W. Unites, A. MacKinnon, S. P. Hatchett, B. A. Remington, H. S. Park, P. Springer, J. A. Koch, O. L. Landen, John Seely et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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