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Inspection and Classification of Semiconductor Wafer Surface Defects Using CNN Deep Learning Networks

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Jong-Chih Chien, Ming-Tao Wu and Jiann-Der Lee

To detect and classify semiconductor wafer defects in order to help determine the cause(s) of the defects.

Revista: Applied Sciences Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 10 Num: 0 Par: 15 Año: 2020

In vitro efficacy of copper and silver ions in eradicating Pseudomonas aeruginosa, Stenotrophomonas maltophilia and Acinetobacter baumannii: Implications for on-site disinfection for hospital infection control

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Hsin-I Huang, Hsiu-Yun Shih, Chien-Ming Lee, Thomas C. Yang, Jiunn-Jyi Lay, Yusen E. Lin Pág. 73 - 80

Revista: Water Research Formato: Electrónico

Tabla de contenido: Vol: 42 Num: 1-2 Par: 0 Año: 2008

A New Approach to Image Copy Detection Based on Extended Feature Sets

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Jen-Hao Hsiao; Chu-Song Chen; Lee-Feng Chien; Ming-Syan Chen Pág. 2069 - 2079

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON IMAGE PROCESSING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 16 Num: 8 Par: 0 Año: 2007

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