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In situ peeling of one-dimensional nanostructures using a dual-probe nanotweezer
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Hui Xie and Stéphane Régnier
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 3 Par: 0 Año: 2010
Calibration of lateral force measurements in atomic force microscopy with a piezoresistive force sensor
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Hui Xie, Julien Vitard, Sinan Haliyo, Stéphane Régnier, and Mehdi Boukallel
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 79 Num: 3 Par: 0 Año: 2008
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