5   Artículos

 
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Chen, J. C. Yip, L. Elson, J. Wang, H. Maniezzo, D. Hudson, R. E. Yao, K. Estrin, D.     Pág. 1154 - 1162
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Donohue, C. Yip, K.     Pág. 49 - 63
Revista: JOURNAL OF PORTFOLIO MANAGEMENT    Formato: Impreso

 
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Yip, K-W; Ng, T-S     Pág. 1915 - 1923
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

 
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Lloyd, C; Yip, P; Chan, K     Pág. 369 - 376
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY    Formato: Impreso

 
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Yip, K W; Ng, T-S     Pág. 640 - 646
Revista: IEEE JOURNAL OF SELECTED AREAS IN COMMUNICATIONS    Formato: Impreso

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