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Eye Pattern Evaluation in High-Speed Digital Systems Analysis by Using MTL Modeling

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Antonini, G. Drewniak, J. L. Orlandi, A. Ricchiuti, V. Pág. 1807 - 1815

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 7 Par: 0 Año: 2002

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