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High-throughput x-ray characterization system for combinatorial materials studies

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Zhenlin Luo, Bin Geng, Jun Bao, Cihui Liu, Wenhan Liu, Chen Gao, Zhiguo Liu, and Xunliang Ding Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 9 Par: 0 Año: 2005

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