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Large-scale broad-band parasitic extraction for fast layout verification of 3-D RF and mixed-signal on-chip structures

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Feng Ling; Okhmatovski, V.I.; Harris, W.; McCracken, S.; Aykut Dengi Pág. 264 - 273

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 53 Num: 1 Par: 0 Año: 2005

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