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Sinkus, R.; Tanter, M.; Bercoff, J.; Siegmann, K.; Pernot, M.; Athanasiou, A.; Fink, M.     Pág. 490 - 499
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Fink, S J; Huston, C; Baden, S B; Jansen, K     Pág. 1089 - 1097

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