AVANZADA

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One-Sided Tolerance Limts for Balanced and Unbalanced Random Effects Models

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David Hoffman Pág. 303 - 312

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

COMMONALITY AND VARIABILITY IN SOFTWARE ENGINERING

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Coplien, James; Hoffman, Daniel; Weiss, David Pág. 37 - 45

Revista: IEEE SOFTWARE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 15 Num: 6 Par: 0 Año: 1998

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