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Noninvasive determination of optical lever sensitivity in atomic force microscopy

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M. J. Higgins, R. Proksch, J. E. Sader, M. Polcik, S. Mc Endoo, J. P. Cleveland, and S. P. Jarvis

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

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