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Automatic RF Techniques Group - Characterization and Applications of On-Wafer Diode Noise Sources

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Dunleavy, L P; Randa, J; Walker, D K; Billinger, R; Rice, J Pág. 2620 - 2627

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 12 (2) Par: 0 Año: 1998

A Table-Based Bias and Temperature-Dependent Small-Signal and Noise Equivalent Circuit Model

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Winson, P B; Lardizabal, S M; Dunleavy, L Pág. 46 - 51

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 1 Par: 0 Año: 1997

Analysis and Measurement of Mode Polarizers in Square Waveguide

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Gaiewski, W R; Dunleavy, L P; Castro Jr, A Pág. 997 - 999

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 45 Num: 6 Par: 0 Año: 1997

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