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The Future of Industrial Statistics: A Panel Discussion
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Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff
Pág. 103 - 127
Revista:
TECHNOMETRICS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2008
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