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Influence of the Noise Model on Level Set Active Contour Segmentation

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Martin, P. Refregier, P. Goudail, F. Guerault, F. Pág. 799 - 803

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 26 Num: 6 Par: 0 Año: 2004

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