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Dur n, Ricardo G, Lombardi, Ariel L Pág. 1679 - 1706

Revista: MATHEMATICS OF COMPUTATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 252 Par: 0 Año: 2005

Maximal Diagnosis of Interconnects of Random Access Memories

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Zhao, J. Meyer, F. J. Lombardi, F. Park, N. Pág. 423 - 434

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 4 Par: Año: 2003

Analysis of Stratified Testing for Multichip Module Systems

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Park, N. Lombardi, F. Pág. 100 - 110

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 1 Par: 0 Año: 2002

Analysis of repair algorithms for mirrored-disk systems

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Kari, H; Saikkonen, H; Park, N; Lombardi, F Pág. 193 - 200

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON RELIABILITY Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 46 Num: 2 Par: 0 Año: 1997

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