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Williamson, K H; Gunderson, R P; Hamblin, G M; Gallup, D L; Kitz, K     Pág. 1783 - 1792
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

 
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Du¨temeyer, T.; Quitmann, C.; Kitz, M.; Do¨rnemann, K.; Johansson,     Pág. 2638 - 2648
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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