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High-temperature bulge-test setup for mechanical testing of free-standing thin films

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Kalkman, A. J. Verbruggen, A. H. Janssen, G. C. A. M. Pág. 1383 - 1385

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 3 Par: 1 Año: 2003

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