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Minden, G.J.; Evans, J.B.; Searl, L.S.; DePardo, D.; Rajbanshi, R.; Guffey, J.; Qi Chen; Newman, T.R.; Petty, V.R.; Weidling, F.; Peck, M.; Cordill, B.; Datla, D.; Barker, B.; Agah, A.     Pág. 113 - 121
Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE    Formato: Impreso

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