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O. Marchuk, G. Bertschinger, W. Biel, E. Delabie, M. G. von Hellermann, R. Jaspers, and D. Reiter
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Cortes, P. Espelta, J. M. Save, R. Biel, C.
Pág. 79 - 88
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Biel, C. Save, R. Habrouk, A. Espelta, J. M. Retana, J.
Pág. 535 - 540
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Olivella, C; Biel, C; Vendrell, M; Savé, R
Pág. 222 - 225
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