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Crack growth monitoring on industrial plant using established electrical resistance `scanner¿ technology

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D M Farrell, B J Robbins, J Stallings, S Cardoso and W Bakker Pág. 690

Revista: INSIGHT Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 12 Par: 0 Año: 2008

Curvature-Constrained Shortest Paths in a Convex Polygon

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Agarwal, P. K. Biedl, T. Lazard, S. Robbins, S. Suri, S. Whitesides, S. Pág. 1814 - 1851

Revista: SIAM JOURNAL ON COMPUTING Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 31 Num: 6 Par: 0 Año: 2002

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