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Bent silicon crystal in the Laue geometry to resolve x-ray fluorescence for x-ray absorption spectroscopy

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Kropf, A. J. Finch, R. J. Fortner, J. A. Aase, S. Karanfil, C. Segre, C. U. Terry, J. Bunker, G. Chapman, L. D. Pág. 4696 - 4702

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 74 Num: 11 Par: 0 Año: 2003

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