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WSXM: A software for scanning probe microscopy and a tool for nanotechnology

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I. Horcas, R. Fernández, J. M. Gómez-Rodríguez, J. Colchero, J. Gómez-Herrero, and A. M. Baro

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 78 Num: 1 Par: 0 Año: 2007

Comparison of strain gage and interferometric detection for measurement and control of piezoelectric actuators

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Colchero, L. Colchero, J. Herrero, J. G. Prieto, E. Baro, A. Huang, W. H. Pág. 133 - 140

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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