3   Artículos

 
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Seiden, S. S. van Stee, R. Epstein, L.     Pág. 455 - 469
Revista: SIAM JOURNAL ON COMPUTING    Formato: Impreso

 
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Pi, Yong-Li; Trahair, N S; Delrue, S F; Snijder, H H; Bijlaard, F S K; Stee     Pág. 352 - 352
Revista: JOURNAL OF STRUCTURAL ENGINEERING (NEW YORK, NY)    Formato: Impreso

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