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High frequency-bandwidth optical technique to measure thermal elongation time responses of near-field scanning optical microscopy probes

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Biehler, B. La Rosa, A. H. Pág. 3837 - 3840

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 73 Num: 11 Par: 0 Año: 2002

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