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Methods for Measurement and Simulation of Weak Substrate Coupling in High-Speed Bipolar ICs

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Steiner, W. Pfost, M. Rein, H.-M. Sturmer, A. Schuppen, A. Pág. 1705 - 1713

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 7 Par: 0 Año: 2002

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