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Development and performance of the nanoworkbench: A four tip STM for conductivity measurements down to submicrometer scales

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Olivier Guise, Hubertus Marbach, John T. Yates, Jr., Moon-Chul Jung, Jeremy Levy, and Joachim Ahner Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

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