3   Artículos

 
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Setiono, R.; Baesens, B.; Mues, C.     Pág. 299 - 307
Revista: IEEE TRANSACTIONS ON NEURAL NETWORK    Formato: Impreso

 
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Johan Huysmans, Bart Baesens, Jan Vanthienen and Tony van Gestel     Pág. 479 - 487
Revista: EXPERT SYSTEMS WITH APPLICATIONS    Formato: Impreso

 
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Baesens, B. Setiono, R. Mues, C. Vanthienen, J.     Pág. 312 - 329
Revista: MANAGEMENT SCIENCE    Formato: Impreso

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