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Scanning probe microscopes go video rate and beyond

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M. J. Rost, L. Crama, P. Schakel, E. van Tol, G. B. E. M. van Velzen-Williams, C. F. Overgauw, H. ter Horst, H. Dekker, B. Okhuijsen, M. Seynen, A. Vijftigschild, P. Han, A. J. Katan, K. Schoots, R. Schumm et al Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 5 Par: 0 Año: 2005

Design and performance of a high-resolution frictional force microscope with quantitative three-dimensional force sensitivity

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M. Dienwiebel, E. de Kuyper, L. Crama, J. W. M. Frenken, J. A. Heimberg, D.-J. Spaanderman, D. Glastra van Loon, T. Zijlstra, and E. van der Drift Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

Separation of the Nonlinear Source-Pull From the Nonlinear System Behavior

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Crama, P. Rolain, Y. Van Moer, W. Schoukens, J. Pág. 1890 - 1894

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 8 Par: 0 Año: 2002

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