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Evaluation of surface and subsurface cracks in nanoscale-machined single-crystal silicon by scanning force microscope and scanning laser microscope

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Sumomogi, T. Nakamura, M. Endo, T. Goto, T. Kaji, S. Pág. 141 - 146

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

Purity-dependent structures of Al nanoclusters on HOPG observed by STM

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Endo, T. Sunada, T. Sumomogi, T. Maeta, H. Pág. 159 - 162

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 48 Num: 2-3 Par: 0 Año: 2002

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