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Fotsing, J. L. N. Hoffmeyer, M. Chotikaprakhan, S. Dietzel, D. Pelzl, J. Bein, B. K. Cerqueira, F. Macedo, F. Ferreira, J. A.     Pág. 872 - 875
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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