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Sergio Lautaro Castro Miranda, Enrique Del Rey Castillo, Vicente Gonzalez and Johnson Adafin    
Low accuracy in the estimation of construction costs at early stages of projects has driven the research on alternative costing methods that take advantage of computing advances, however, direct implications in their use for practice is not clear. The pu... ver más
Revista: Buildings    Formato: Electrónico

 
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Jorge Enrique Carrión González,Antonio A. Martínez García,Alfredo del Castillo Serpa,Orestes Hernández Areu,Marianela del Cisne Carrión González     Pág. 112 - 127
El uso de dispositivos basados en electrónica de potencia, los cuales son fuentes de distorsión armónica, conducen a las redes eléctricas a convertirse en receptores de estas tensiones y/o corrientes no-sinusoidales. Entre los equiposque han sufrido un i... ver más
Revista: Revista CientÍ­fica de IngenierÍ­a Energética    Formato: Electrónico

 
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Wenjing Song, Ke Han, Yiou Wang, Terry Friesz, Enrique del Castillo     Pág. 263 - 282
Dynamic traffic assignment models rely on a network performance module known as dynamic network loading(DNL), which expresses the dynamics of flow propagation, flow conservation, and travel delay at a network level. The DNL defines the so-called network ... ver más
Revista: Transportation Research Procedia    Formato: Electrónico

 
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Rodrigo Vargas,Enrico Yépez,José Luis Andrade,Gregorio Ángeles,Tulio Arredondo,Alejandro Castellanos,Josué Delgado,Jaime Garatuza-Payan,Eugenia González del Castillo,Walter Oechel,Arturo Sánchez-Azofeifa,Erik Velasco,Enrique Vivoni,Christopher Watts    
Understanding ecosystem processes from a functional point of view is essential to study relationships among climate variability, biogeochemical cycles, and surface-atmosphere interactions. Increasingly during the last decades, the eddy covariance (EC) me... ver más
Revista: Atmósfera    Formato: Electrónico

 
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Enrique del Castillo, Bianca M. Colosimo     Pág. 1 - 15
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Rajagopal, Ramkumar; del Castillo, Enrique     Pág. 152 - 163
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

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