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David S. Sayres, E. J. Moyer, T. F. Hanisco, J. M. St. Clair, F. N. Keutsch, A. O'Brien, N. T. Allen, L. Lapson, J. N. Demusz, M. Rivero, T. Martin, M. Greenberg, C. Tuozzolo, G. S. Engel, J. H. Kroll et al.    
Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS    Formato: Impreso

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