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Artificial seeding of fatigue cracks in NDI reference coupons
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M Yanishevsky, M Martinez, C Mandache, M Khan, A Fahr and D Backman
Pág. 664
Revista:
INSIGHT
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Vol: 52 Num: 12 Par: 0 Año: 2010
Defect depth estimation using pulsed eddy current with varied pulse width excitation
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I Zainal Abidin, C Mandache, G Y Tian and Yong Li
Pág. 69 - 72
Revista:
INSIGHT
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Vol: 51 Num: 2 Par: 0 Año: 2009
CORRESPONDENCE - On the Isometries Between Zpk and Zp/k
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Salagean-Mandache, A
Pág. 2146 - 2147
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON INFORMATION THEORY
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Vol: 45 Num: 6 Par: 0 Año: 1999
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