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Puschel, M.; Moura, J.M.F.; Johnson, J.R.; Padua, D.; Veloso, M.M.; Singer, B.W.; Jianxin Xiong; Franchetti, F.; Gacic, A.; Voronenko, Y.; Chen, K.; Johnson, R.W.; Rizzolo, N.     Pág. 232 - 275
Revista: PROCEEDINGS OF THE IEEE    Formato: Impreso

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