AVANZADA

4 Artículos

Reliability Growth Management Metrics and Statistical Methods for Discrete-Use Systems. Comment.

Solicitud

usuarios registrados

Nozer D. Singpurwalla Pág. 396

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 4 Par: 0 Año: 2010

Decelerated Testing: A Hierarchical Bayes Approach

Solicitud

usuarios registrados

Singpurwalla, Nozer D Pág. 468 - 477

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »