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Hampel, G.; Abush-Magder, D.; Diaz, A.; Drabeck, L.M.; Flanagan, M.J.; Graybeal, J.M.; Hobby, J.D.; MacDonald, M.; Polakos, P.A.; Srinivasan, J.; Trickey, H.; Zhang, L.; Rittenhouse, G.     Pág. s14 - s21
Revista: IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE    Formato: Impreso

 
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Griffin, T; Libkin, L; Trickey, H     Pág. 508 - 511

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