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Versatile apparatus for attosecond metrology and spectroscopy
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M. Fieß, M. Schultze, E. Goulielmakis, B. Dennhardt, J. Gagnon, M. Hofstetter, R. Kienberger, and F. Krausz
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 81 Num: 9 Par: 0 Año: 2010
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