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An Accurate On-Wafer Deembedding Technique With Application to HBT Devices Characterization

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Bousnina, S; Falt, C; Mandeville, P; Kouki, A B; Ghannouchi, F M Pág. 420 - 424

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 50 Num: 2 Par: 0 Año: 2002

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