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Document Image Analysis - A Statistical, Nonparametric Methodology for Document Degradation Model Validation

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Kanungo, T; Karalick, R M; Baird, H S; Stuezle, W; Madigan, D Pág. 1209 - 1223

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 22 Num: 11 Par: 0 Año: 2000

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