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Permittivity Characterization of Low-k Thin Films From Transmission-Line Measurements
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Janezic, M. D. Williams, D. F. Blaschke, V. Karamcheti, A. Chang, C. S.
Pág. 132 - 136
Revista:
IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES
Formato:
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Vol: 51 Num: 1 Par: 1 Año: 2003
Evaluating High Level Parallel Programming Support for Irregular Applications in ICC++
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Chien, A A; Dolby, J; Gangul, B; Karamcheti, V; Zhang, X
Pág. 1213 - 1244
Revista:
SOFTWARE, PRACTICE & EXPERIENCE
Formato:
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Tabla de contenido:
Vol: 28 Num: 11 Par: 0 Año: 1998
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