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Measurement of residual stress in multicrystalline silicon ribbons by a self-calibrating infrared photoelastic method

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M. C. Brito, J. P. Pereira, J. Maia Alves, J. M. Serra, and A. M. Vallera Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 1 Par: 0 Año: 2005

A differential mechanical profilometer for thickness measurement

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J. Maia Alves, M. C. Brito, J. M. Serra, and A. M. Vallêra Pág. 5362 - 5363

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 75 Num: 12 Par: 0 Año: 2004

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