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Electrical delay technique in the picosecond thermoreflectance method for thermophysical property measurements of thin films

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Naoyuki Taketoshi, Tetsuya Baba, and Akira Ono Pág. -

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 76 Num: 9 Par: 0 Año: 2005

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