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Robust Ohmic contact junctions between metallic tips and multiwalled carbon nanotubes for scanned probe microscopy
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Suenne Kim, Jeehoon Kim, Morgann Berg, and Alex de Lozanne
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
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Impreso
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Vol: 79 Num: 10 Par: 0 Año: 2008
Compact variable-temperature magnetic force microscope with optical access and lateral cantilever positioning
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usuarios registrados
Casey Israel, Changbae Hyun, Alex de Lozanne, Soohyon Phark, and Z. G. Khim
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 77 Num: 2 Par: 0 Año: 2006
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