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Single-shot electron bunch length measurements using a spatial electro-optical autocorrelation interferometer

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Daniel Sütterlin, Daniel Erni, Volker Schlott, Hans Sigg, Heinz Jäckel, and Axel Murk

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 81 Num: 10 Par: 0 Año: 2010

Expandable fully reflective focal-plane optics for millimeter- and submillimeter-wave array receivers

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T. Lüthi, D. Rabanus, U. U. Graf, C. Granet, and A. Murk

Revista: REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 77 Num: 1 Par: 0 Año: 2006

A New Configuration of Polarization-Rotating Dual-Beam Interferometer for Space Use

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Manabe, T. Inatani, J. Murk, A. Wylde, R. J. Seta, M. Martin, D. H. Pág. 1696 - 1704

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON MICROWAVE THEORY AND TECHNIQUES Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 51 Num: 6 Par: 0 Año: 2003

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