AVANZADA

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Nonparametric Profile Monitoring by Mixed Effects Modeling. Comment

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William H. Woodall, Jeffrey B. Birch, Pang Du Pág. 285 - 287

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 52 Num: 3 Par: 0 Año: 2010

The Inertial Properties of Quality Control Charts

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Woodall, William H, Mahmoud, Mahmoud A Pág. 425 - 436

Revista: TECHNOMETRICS Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 47 Num: 4 Par: 0 Año: 2005

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