18   Artículos

 
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Yili Hong, William Q. Meeker     Pág. 148 - 159
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Ying Shi, Luis A. Escobar, William Q. Meeker     Pág. 1 - 13
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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William Q. Meeker, Luis A. Escobar, Yili Hong     Pág. 146 - 161
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Zuo, Jianying; Meeker, William Q.; Wu, Huaiqing     Pág. 128 - 143
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Hong, Yili; Meeker, William Q.; Escobar, Luis A.     Pág. 64 - 68
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Steinberg, David M.; Bisgaard, Søren; Doganaksoy, Necip; Fisher, Nicholas; Gunter, Bert; Hahn, Gerald; Keller-McNulty, Sallie; Kettenring, Jon; Meeker, William Q.; Montgomery, Douglas C.; Wu, C. F. Jeff     Pág. 103 - 127
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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Necip Doganaksoy, Gerald J. Hahn, William Q. Meeker    
Revista: QUALITY PROGRESS    Formato: Impreso

 
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Zhang, Yao; Meeker, William Q.     Pág. 49 - 60
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

 
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McKane, Scott W.; Escobar, Luis A.; Meeker, William Q.     Pág. 182 - 190
Revista: TECHNOMETRICS    Formato: Impreso

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