|
|
|
|
|
J. Shin, D. C. McFarland, and S. G. Velleman
Pág. 201 - 207
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
S. G. Velleman, K. R. B. Sporer, C. W. Ernst, K. M. Reed, and G. M. Strasburg
Pág. 1964 - 1973
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
S. G. Velleman, C. S. Coy, and K. E. Nestor
Pág. 876 - 882
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
S. G. Velleman, X. Zhang, C. S. Coy, Y. Song, and D. C. McFarland
Pág. 709 - 715
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Y. Song, K. E. Nestor, D. C. McFarland, and S. G. Velleman
Pág. 123 - 134
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
X. Li and S. G. Velleman
Pág. 265 - 275
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
X. Li and S. G. Velleman
Pág. 387 - 397
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
X. Li, D. C. McFarland, and S. G. Velleman
Pág. 1725 - 1734
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
J. Shin, S. G. Velleman, J. D. Latshaw, M. P. Wick, Y. Suh, and K. Lee
Pág. 1427 - 1437
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
|
Christensen, V.L.; Ort, D.T.; Nestor, K.E.; Havenstein, G.B.; Velleman, S.G.
Pág. 858 - 877
|
|
|
|
|
|