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Scanning mu-superconduction quantum interference device force microscope
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Veauvy, C. Hasselbach, K. Mailly, D.
Pág. 3825 - 3830
Revista:
REVIEW OF SCIENTIFIC INSTRUMENTS
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 73 Num: 11 Par: 0 Año: 2002
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