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Bacterial wilt of common bean: Effect of seedborne inoculum on disease incidence and seedling vigour
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Hsieh, T-F, Huang, H C, Erickson, R S
Revista:
SEED SCIENCE AND TECHNOLOGY
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Impreso
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Vol: 34 Num: 1 Par: 0 Año: 2006
A High-Throughput Low-Cost AES Processor
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Su, C.-P. Lin, T.-F. Huang, C.-T. Wu, C.-W.
Pág. 86 - 91
Revista:
IEEE COMMUNICATIONS MAGAZINE
Formato:
Impreso
Tabla de contenido:
Vol: 41 Num: 12 Par: 0 Año: 2003
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