2 Artículos

Deformation Models for Image Recognition

Solicitud

usuarios registrados

Keysers, D.; Deselaers, T.; Gollan, C.; Ney, H. Pág. 1422 - 1435

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 29 Num: 8 Par: 0 Año: 2007

Pattern Recognition Adaptation in Statistical Pattern Recognition Using Tangent Vectors

Solicitud

usuarios registrados

Keysers, D. Macherey, W. Ney, H. Dahmen, J. Pág. 269 - 274

Revista: IEEE TRANSACTIONS ON PATTERN ANALYSIS AND MACHINE INTELLIGENCE Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 26 Num: 2 Par: Año: 2004

« Anterior Página: 1 de 1 Siguiente »