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X-ray diffraction line profile analysis for defect study in Cu-1 wt.% Cr-0.1 wt.% Zr alloy;

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K. Kapoor, D. Lahiri, I.S. Batra, S.V.R. Rao and T. Sanyal Pág. 131 - 140

Revista: MATERIALS CHARACTERIZATION Formato: Impreso

Tabla de contenido: Vol: 54 Num: 2 Par: 0 Año: 2005

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